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7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen.
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THEMA: 7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen.



7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen. 25 Sep 2007 17:26 #639

Eine Frage an die Fachgemeinde:

Die TS2 fordert in 7.6.1 die Analyse der Messysteme .

Detailiert wird gefordert alle Arten von Messystemen statistisch zu bewerten (nach Kundenhandbuch). (MSA)

Aber ..einen Satz später steht:

J E D E S im Produktionslenkungsplan genannte Messsystem muss dieser Untersuchung unterzogen werden.

Nun habe ich einen Zertauditor im Haus der diese Forderung auch wörtlich interpretiert.

d.h er stellt sich vor jedes im PLP genannte Maß an einem Teil muss einzeln untersucht werden.

Ergo bei ca 300 Maßen im PLP und ca 250 Produkten müssten wir mal eben 75000 MSA´s durchführen. ..ok 74500 (500 haben wir schon).

Frage:

1. Ist schonmal jemand mit dieser Forderung konfrontiert worden?

2. Gibt es Auslegungen dazu. (Habe in den IATF FAQ nix gefunden)

3. Wie komme ich aus der Nummer wieder raus?

Danke fürs Feedback

Cargie
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Re:7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen. 26 Sep 2007 07:45 #640

Hallo Carie
Forderung ist richtig, aber wie bereits erwähnt geht es um das Messsystem und nicht um Merkmale, d.h. wenn mit einem Messystem mehrere Merkmale gemessen werden können reicht die Analyse des Messsystems (oder wie soll z.B. ein eingesetzes Längenmessgerät das für xx Merkmale eingesetzt wird analysiert werden?)

War bei uns so noch nie ein Thema an den Audits.

Gruss aus der Schweiz
schneidi
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Re:7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen. 26 Sep 2007 11:46 #642

Hallo ihr beiden,

was das Verfahren 1 angeht (unter Laborbedingungen) kann ich schneidi Recht geben, eine anschliessende Linearitäts-untersuchung ist wenn mehrere Merkmale über den Messbereich gemessen werden i.O.. Jedoch beinhaltet die vollständige Analyse eines Messsystems, dass die Eignung auch mit Verfahren 2 bzw. Verfahren 3 (unter Serienbedingungen) nachgewiesen wird! Es könnte z.B. sein, das bei der Messung im Feld die Feststellschraube eines Messschiebers bei der Ermittlung der Messgrösse störende Auswirkungen auf das Ergebniss hat.
Somit ist für jedes Merkmal einer Analyse nach Verfahren 2 oder 3 durchzufühern um die Eignung des Messsystems nachzuweisen.

PS Downloads=>Informationen=>Prüfprozesseignung

Gruß

Andi
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Re:7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen. 26 Sep 2007 13:53 #643

Danke für die Antworten.

Bei uns wurde dieses Thema auch das erste mal angesprochen (NC 1) .

Und der Auditor hat, wenn man den reinen Normtext betrachtet, auch recht.

Allerdings führt das dann dazu das man sich auf Mindestforderungen beschränkt. (Nur besondere Merkmale im CP).

Wir arbeiten mit dem CP als Lenkungsinstrument für alle Prüfungen vom WE bis WA inkl. Requalifikation.

Wäre dann Geschichte.

Mal schauen was draus wird.

Mfg

Cargie
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Re:7.6.1 TS 16949 :2002 Analyse von Messsystemen. 27 Sep 2007 16:46 #663

Guten Tag,

Sie könnten zur Aufwandsbeschränkung folgendes machen:
Sie erstellen nach sinnvollen Produktgruppen aufgeteilt jeweils einen Produktionslenkungsplan (PLP), in dem nur produktbezogene und prozessbezogene BESONDERE Merkmale mit den dazu verwendeten Prüf- und Messmitteln eingetragen sind. Nur für diese Prüf- und Messmittel erstellen Sie die Messsystemfähigkeitsuntersuchungen.

Die bisherigen Produktionslenkungspläne mit allen Prüfmerkmalen könnten Sie als als Prüfplan bezeichnen oder in den PLP die BESONDEREN Merkmale in der enstprechenden Spalte kennzeichnen.

Viel Erfolg.

Mit freundlichen Grüßen
Sonntag
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