Hallo Gemeinde,

ich hätte gern mal wieder ein Problem.

Ich muss ein optiches Sortiersystem freigeben.

Unsere Teile durchlaufen das System und werden auf Beschädigungen geprüft. Hierzu werden Kameras verwendet, die Kontrastunterschiede auswerten und dann entweder OK oder nOK auswerfen. (bisher hat das Sortierpersonal gemacht)

Jetzt meine Frage, wie gebe ich das System frei, bzw wie bereite ich die AAs vor, damit der Kunde (TS16949, wie wir auch) die Freigabe erteilt.

Es geht mir hier explizit um den Punkt Wiederholgenauigkeit bzw. regelmässige Prozessüberwachung.

Es gibt zwei Lösungsansätze meinerseits:

1. ich nehme 1 x monatlich 50 Referenzteile, die gerade noch ok sind und und 50 Teile die gerade schon nicht OK sind.
Diese lasse ich1 x im Monat durch die Anlage laufen und sie muss die Teile immer in den entsprechenden Behälter ausgeben.

oder

2. ich lasse 1 x täglich 100 Stück aus dem normalen Betrieb aus der OK-Schiene händisch nachprüfen, ob sie wirklich OK sind.
Den nOK Bereich prüfe ich nicht, da dieser sowieso nochmals händisch überprüft wird.
Weil: wir haben auch einige OK Teile im nOK, aber wir hatten noch nie nOK-Teile im OK.


Der zweite Punkt wäre mir eigentlich lieber.

Was meint Ihr, reicht eine solche Vorgehensweise, oder könnte es zu Problemen kommen.

Danke.

Hallo,

Denke, dass Du mit deiner Variante 2 sehr gut fährst und eigentlich mehr absicherst als in der Branche üblich ist zumal Du ja sagst, dass Du bisher keine N.i.O in den OK finden konntest.

Eine normale MSA wo Du die Wiederholgenauigkeiten anhand statistischer Werte nachweisen kannst würde hier auch reichen.

Gruss

Guten Tag,

zu nächst sollte zwischen der einmaligen Freigabe Ihres Messsystems und der regulären Wartung/Überwachung unterschieden werden. Die einmalige Freigabe zählt als Nachweis der grundsätzlichen Eignung des Messystems und ist mit größerem Aufwand verbunden. Dieser Aufwand sollte nach Großreparturen (z.B. Austausch/Reparatur von Hauptkomponenten) wiederholt werden.
in der Measurement System Analysis (MSA) der AIAG werden für attributive Mess- und Prüfprozesse drei Verfahren zur Beurteilung des Messprozesses vorgeschlagen:
- Kappa Verfahren (Hypothesen- und Effizienztest)
- Analytische Methode (Zahl der positiven Entscheide)
- Signalerkennung (experimentale Bestimmung der Grauzonen)

Dietrich/Schulze/Conrad ("Eignungsnachweis von Messsystemen", Carl Hanser Verlag) empfehlen die Signalerkennung als Freigabemethode.
Sollte Ihr Messsystem ohne Werkereinfluss sein, ist das von Ihnen unter 1) geschilderte Verfahren richtig.

Nachdem Sie die einmalige Freigabe erfolgreich durchgeführt haben, können Sie das von Ihnen bevorzugte Verfahren 2) periodisch anwenden.

Hier noch einige Hinweise für automatisierte optische Prüfverfahren:
achten Sie auf geringe Störgrößen, indem Sie die Beleuchtung konstant halten (möglichst Lichteinflüsse von außen vermeiden), die Linsen regelmäßig reinigen und/oder durch leichten Überdruck in der Messzelle den Schmutzeinfall von außen reduzieren.

Viel Erfolg.



Mit freundlcihen Grüßen
Sonntag

Hallo Herr Sonntag,

danke für die ausführliche Erklärung.

Leider komme ich nicht weiter. Ich habe beim Googeln eine Datei zur Berechnung bei attributiven Merkmalen gefunden.
Hier sind jedoch 3 Prüfer aufgeführt. Und mit Angaben "%Prüfpersonen untereinander" kann ich auch nichts anfangen.

Meine Anlage hat jedoch keinen Bedienereinfluss.

Gibts es eine andere Vorlage zur Freigabe nach Methode 1 oder kann mir jemand erklären, was ich anpassen muss und wie ich dann den %GRR raus bekomme?

Danke. Dieser Anhang ist für Gäste unsichtbar. Bitte melde dich an (oder registriere dich) um ihn zu sehen.

Guten Morgen mhelling,

ich klinke mich als neues Forummitglied mal in die Thematik mit ein und möchte Ihnen meine Meinung mitteilen.

In der Measurement System Analysis unterscheidet man 3 verschiedene Verfahren zu Fähigkeitsuntersuchungen von Prüfprozessen.

Verfahren 1:
Dieses Verfahren wird bevorzugt von Prüfmittelherstellern angewendet und berücksichtigt unter (theoretisch angenommen) Ausschluss anderer Einflüsse ausschließlich das Prüfmittel. Dazu wird ein kalibriertes Normal wiederholt gemessen. Es dient in erster Linie dem Nachweis der prinzipiellen Eignung und Tauglichkeit eines Prüfmittels und dient nach Dietrich/Schulze dem Prüfmittelanwender zu folgendem Zweck:
„Sollte sich bereits bei Verfahren 1 herausstellen, dass das Messsystem nicht geeignet ist, können die weiteren Untersuchungen nach Verfahren 2 oder 3 entfallen.“

Verfahren 2:
Hierbei handelt es sich um Untersuchungen zur Wiederholpräzision und Vegleichspräzision. Eine Anwendung erfolgt bei annehmbaren Bedienereinfluss.
Da ich Ihren Anhang aus IT-Gründen nicht öffnen kann, gehe ich davon aus, dass sich Ihr Anhang auf diese Methodik bezieht.

Verfahren 3:
Dieses Verfahren wird bei Prüfprozessen angewendet, wo ein Bedienereinfluss ausgeschlossen werden kann - demzufolge bei Ihrem optischen Prüfsystem. In diesem Zusammenhang stellt sich mir eine Frage: Sie haben in Ihrem Beitrag von "attributiven Merkmalen" gesprochen. Meiner Meinung nach handelt es sich doch um ein variables Merkmal, schließlich können die Kontrastunterschiede unterschiedlich stark ausgeprägt sein und nur durch die Angabe einer einseitigen Toleranzgrenze Gut- bzw. Schlecht-Teile voneinander getrennt werden...

Doch zurück zum Thema:
Bezogen auf die Aussagen von Dietrich und Schulze gehen Sie dabei folgendermaßen vor:
Die Wiederholpräzision muss wie nach Verfahren 2 bestimmt werden. Dazu nehmen sie eine erhöhte Anzahl an Teilen (ca. 25) und messen diese in 2 Durchgängen, um die mehrmalige Messung nach Verfahren 2 mit verschiedenen Bedienern zu kompensieren. Diese Teile (entnommen aus der Produktion) sollten dabei die komplette Prozessstreubreite abdecken. Die Untersuchungen zur Vergleichspräzision sind demzufolge hier nicht anwendbar und entfallen. Die Auswertung orientiert sich dann nach den Vorgaben der MSA.

Über weitere Fragen, Verbesserungen, Anmerkungen freue ich mich sehr.

Grüße
Chris

Guten Tag,

die Antwort von ChrisCross trifft auf Messsysteme zur Messung von variablen Größen zu.
Bei attributiven Messsystemen (ja/nein, gut/schlecht) werden die Verfahren 1, 2 und 3 nicht angewendet.

mhelling,
Sie werden bei Ihrem Fall der attributiven optischen Prüfung (gut/schlecht) kaum eine sinnvolle und praxisgerechte Statistik betrieben können außer dass das Messsystem alle Prüflinge (gute, schlechte einschl. grenzwertige Prüflinge) korrekt erkannt hat (wie sie es unter 1. bereits beschrieben haben).



Mit freundlichen Grüßen
Sonntag

Hallo und danke für die zahlreichen Antworten,

habe das Heftlein "Eignungsnachweis von Messystemen" von Dietrich,Schulze,Conrad auch hier und bin ebenfalls zum Schluss gekommen, dass eine klassische MSA hier nicht funktioniert.

Das System erfasst zwar eine Pixelzahl, diese wird jedoch je nach Position, Form und Lage unterschiedlich begewertet. Die Stärke der Kontrastierung spielt ebenfalls eine Rolle. Somit habe ich tatsächlich keine Daten, die ich definiert messen kann.

Das heisst, ich kann keine Auswertung nach Kappa oder Graubereichen durchführen, da hier immer der tatsächliche Istwert erforderlich ist.


Kniffliger Fall, aber ich denke die 2 Methoden, die ich am Anfang vorgeschlagen habe, sind die einzigsten, die hier wirklich Sinn machen und vom Kunden akzeptiert werden.

Ich melde mich, wenn ich erste Ergebnisse habe.

In der Zwischenzeit bin ich aber gern neuen Ideen offen.

Danke.